Elektrik ve Manyetik Özellikler Ölçüm Sistemi
Submitted by oerisen on 22 September 2017 - 11:39am
2 Kelvin'e kadar düşük sıcaklıklara ulaşmak için kapalı devre He sistemi kullanılır. 5 Tesla'ya çıkabilen süper iletken mıknatısa sahip sistem ile elektrik ve magnetik karakterizasyon yapmak mümkündür. Titreşen örnek magnetometresi (VSM) ve elektriksel ölçüm probları, magnetik histeresis, AC alınganlık, direnç ve Hall etkisi ölçümlerine olanak verir.
Laboratuvarlar
İletişim
merlab
metu [dot] edu [dot] tr
merlab
metu [dot] edu [dot] tr
mlabspl
metu [dot] edu [dot] tr
mlabmkl
metu [dot] edu [dot] tr
mlabksl
metu [dot] edu [dot] tr
mlabkfl
metu [dot] edu [dot] tr
mlabgen
metu [dot] edu [dot] tr
mlabgkl
metu [dot] edu [dot] tr
mlabesl
metu [dot] edu [dot] tr
mlabdkl
metu [dot] edu [dot] tr
mlabygl
metu [dot] edu [dot] tr
mlabyal
metu [dot] edu [dot] tr
mlabykl
metu [dot] edu [dot] tr
mlabxrdl
metu [dot] edu [dot] tr
mlabteml
metu [dot] edu [dot] tr
mlabtal
metu [dot] edu [dot] tr
mlabrkl
metu [dot] edu [dot] tr
mlabril
metu [dot] edu [dot] tr
mlabpal
metu [dot] edu [dot] tr
mlabpzl
metu [dot] edu [dot] tr
mlabnmrl
metu [dot] edu [dot] tr
mlabnmtl
metu [dot] edu [dot] tr
mlabmtl
metu [dot] edu [dot] tr
mlabkorl
metu [dot] edu [dot] tr
mlabkal
metu [dot] edu [dot] tr
mlabesrl
metu [dot] edu [dot] tr
mlabeml
metu [dot] edu [dot] tr
mlabemol
metu [dot] edu [dot] tr
mlabdil
metu [dot] edu [dot] tr
Atomik boyutlara kadar sivriltilmiş bir iğne ucu yardımıyla, yüzeyin yüksek çözünürlükte, üç boyutlu görüntülenmesini sağlar. Görüntüleme, iğne ucunun yüzey ile etkileşiminin incelenmesi sonucunda gerçekleştirilir. Değişik amaçlar için farklı iğne uçları kullanılır. Atomik kuvvet mikroskopu üç farklı teknik ile kullanabilmektedir.






