Elektron Prob Mikroanaliz Cihazı
CİHAZ: JXA - 8230
The JXA-8230 Elektron Prob Mikroanaliz cihazı elektron demetini numuneye göndererek karakteristik x-ışınlarının enerji ve dalga boylarını ölçer. Ayrıca kalitatif ve tam kantitatif analiz yapabilme yeteneği mevcuttur.
TEKNİK ÖZELLİKLER
Element Ölçüm Aralığı : B(5) to U(92)
Çözünürlük (SEI) : 6nm
Büyütme : 40x to 300.000x
Hızlandırma Voltajı : 0,2 to 30 kV
Görüntü Modu : SEI (Taramalı Elektron Mikroskobu)
BEI (Geri Saçılmış Elektron Görüntülemesi)
OMI (Yansıma ve İletim Modunda Optik Mikroskop Görüntü)
XRAY (X-Ray mapping for elements B(5) to U(92))
CİHAZ: JXA - 8230
The JXA-8230 Elektron Prob Mikroanaliz cihazı elektron demetini numuneye göndererek karakteristik x-ışınlarının enerji ve dalga boylarını ölçer. Ayrıca kalitatif ve tam kantitatif analiz yapabilme yeteneği mevcuttur.
TEKNİK ÖZELLİKLER
Element Ölçüm Aralığı : B(5) to U(92)
Çözünürlük (SEI) : 6nm
Büyütme : 40x to 300.000x
Hızlandırma Voltajı : 0,2 to 30 kV
Görüntü Modu : SEI (Taramalı Elektron Mikroskobu)
BEI (Geri Saçılmış Elektron Görüntülemesi)
OMI (Yansıma ve İletim Modunda Optik Mikroskop Görüntü)
XRAY (X-Ray mapping for elements B(5) to U(92))