CİHAZ: JXA - 8230

The JXA-8230 Elektron Prob Mikroanaliz cihazı elektron demetini numuneye göndererek karakteristik x-ışınlarının enerji ve dalga boylarını ölçer. Ayrıca kalitatif ve tam kantitatif analiz yapabilme yeteneği mevcuttur.

TEKNİK ÖZELLİKLER

Element Ölçüm Aralığı : B(5) to U(92)

Çözünürlük (SEI) : 6nm

Büyütme : 40x to 300.000x

Hızlandırma Voltajı : 0,2 to 30 kV

Görüntü Modu : SEI (Taramalı Elektron Mikroskobu)

                        BEI (Geri Saçılmış Elektron Görüntülemesi)

                        OMI (Yansıma ve İletim Modunda Optik Mikroskop Görüntü)

                        XRAY (X-Ray mapping for elements B(5) to U(92))