Yarıstatik C-V Metre
Submitted by oerisen on 22 September 2017 - 11:41am
Kuvazistatik C-V metre, metal-yalıtkan-yarıiletken devre elamanlarının (MIS) kuvazistatik sığasını uygulanan gerilimin fonksiyonu olarak (C-V) ölçümünü gerçekleştirir. Ölçüm esnasında yük-gerilim (Q-V) tekniğini kullanır.
Cihaz: Keithley 595
Bu cihazın akım-gerilim (I-V) ölçümleri yapma yeteneği de vardır.
Teknik Özellikler
Laboratuvarlar
İletişim
merlab
metu [dot] edu [dot] tr
merlabmetu [dot] edu [dot] tr
mlabsplmetu [dot] edu [dot] tr
mlabmklmetu [dot] edu [dot] tr
mlabkslmetu [dot] edu [dot] tr
mlabkflmetu [dot] edu [dot] tr
mlabgenmetu [dot] edu [dot] tr
mlabgklmetu [dot] edu [dot] tr
mlabeslmetu [dot] edu [dot] tr
mlabdklmetu [dot] edu [dot] tr
mlabyglmetu [dot] edu [dot] tr
mlabyalmetu [dot] edu [dot] tr
mlabyklmetu [dot] edu [dot] tr
mlabxrdlmetu [dot] edu [dot] tr
mlabtemlmetu [dot] edu [dot] tr
mlabtalmetu [dot] edu [dot] tr
mlabrklmetu [dot] edu [dot] tr
mlabrilmetu [dot] edu [dot] tr
mlabpalmetu [dot] edu [dot] tr
mlabpzlmetu [dot] edu [dot] tr
mlabnmrlmetu [dot] edu [dot] tr
mlabnmtlmetu [dot] edu [dot] tr
mlabmtlmetu [dot] edu [dot] tr
mlabkorlmetu [dot] edu [dot] tr
mlabkalmetu [dot] edu [dot] tr
mlabesrlmetu [dot] edu [dot] tr
mlabemlmetu [dot] edu [dot] tr
mlabemolmetu [dot] edu [dot] tr
mlabdilmetu [dot] edu [dot] tr
Atomik boyutlara kadar sivriltilmiş bir iğne ucu yardımıyla, yüzeyin yüksek çözünürlükte, üç boyutlu görüntülenmesini sağlar. Görüntüleme, iğne ucunun yüzey ile etkileşiminin incelenmesi sonucunda gerçekleştirilir. Değişik amaçlar için farklı iğne uçları kullanılır. Atomik kuvvet mikroskopu üç farklı teknik ile kullanabilmektedir.
