Refraktometre
Submitted by oerisen on 22 September 2017 - 11:44am
Cihaz: Schimidt+Haensch ATR W2
Otomatik mikroişlemci kontrollü kritik açı refraktometresi opaklık, viskozite ve renkten bağımsız olarak sıvıların refraktif endeksini ölçmek için tasarlanmıştır.
Teknik Özellikler
Laboratuvarlar
İletişim
merlab
metu [dot] edu [dot] tr
merlabmetu [dot] edu [dot] tr
mlabsplmetu [dot] edu [dot] tr
mlabmklmetu [dot] edu [dot] tr
mlabkslmetu [dot] edu [dot] tr
mlabkflmetu [dot] edu [dot] tr
mlabgenmetu [dot] edu [dot] tr
mlabgklmetu [dot] edu [dot] tr
mlabeslmetu [dot] edu [dot] tr
mlabdklmetu [dot] edu [dot] tr
mlabyglmetu [dot] edu [dot] tr
mlabyalmetu [dot] edu [dot] tr
mlabyklmetu [dot] edu [dot] tr
mlabxrdlmetu [dot] edu [dot] tr
mlabtemlmetu [dot] edu [dot] tr
mlabtalmetu [dot] edu [dot] tr
mlabrklmetu [dot] edu [dot] tr
mlabrilmetu [dot] edu [dot] tr
mlabpalmetu [dot] edu [dot] tr
mlabpzlmetu [dot] edu [dot] tr
mlabnmrlmetu [dot] edu [dot] tr
mlabnmtlmetu [dot] edu [dot] tr
mlabmtlmetu [dot] edu [dot] tr
mlabkorlmetu [dot] edu [dot] tr
mlabkalmetu [dot] edu [dot] tr
mlabesrlmetu [dot] edu [dot] tr
mlabemlmetu [dot] edu [dot] tr
mlabemolmetu [dot] edu [dot] tr
mlabdilmetu [dot] edu [dot] tr
500 MHz, 2 kanllı osiloskop.
Kuvazistatik C-V metre, metal-yalıtkan-yarıiletken devre elamanlarının (MIS) kuvazistatik sığasını uygulanan gerilimin fonksiyonu olarak (C-V) ölçümünü gerçekleştirir. Ölçüm esnasında yük-gerilim (Q-V) tekniğini kullanır.
Atomik boyutlara kadar sivriltilmiş bir iğne ucu yardımıyla, yüzeyin yüksek çözünürlükte, üç boyutlu görüntülenmesini sağlar. Görüntüleme, iğne ucunun yüzey ile etkileşiminin incelenmesi sonucunda gerçekleştirilir. Değişik amaçlar için farklı iğne uçları kullanılır. Atomik kuvvet mikroskopu üç farklı teknik ile kullanabilmektedir.
