Endüktif Eşleşmiş Plazma Kütle Spektrometresi
Cihaz: Perkin Elmer DRC II model ICP-MS,
Endüktif eşleşmiş plazma-kütle spektrometrisi, örneklerin yüksek sıcaklıktaki bir plazmaya, genellikle argon, gönderilerek moleküler bağların kırıldığı ve atomların iyonlaştırıldığı bir analitik tekniktir. İyonlar örnekleme ve ikinci aşama süzme (skimmer) konileri arayüzeyinden geçerek vakuma alınır ve burada birleştirilmiş mercek sistemi iyonları quadrupol kütle spektrometresine odaklar. Burada iyonlar kütlelerine ayrılıp taramalı elektron çoğaltıcısı ile analizlenir. Örnek, genel olarak bir solüsyon halinde ve sisleştirici aracılığıyla cihaza gönderilir. ICP-MS çok hızlı bir şekilde farklı kütleleri ölçebildiği için, çoklu element ölçüm cihazı olarak düşünülebilir. Diğer bir alternatif örnekleme tekniği ise, lazer aşındırma (laser ablation) tekniğidir. Bu teknik kullanılarak katı örneklerin direkt analizi yapılabilir. Birçok katı örnek, çözme yoluyla veya LA-ICP-MS kullanılarak ölçülebilir. LA-ICP-MS kullanımının en önemli avantajı yarı-nicel analiz olup bilinmeyen örneklerin kompozisyonu hakkında fikir vermesidir.
Teknik Özellikler
ICP-MS sistemi, atomik iyonlar oluşturan bir Ar plazma ve analiz için bir quadrupole kütle spektrometresinden oluşmuştur. Kütle aralığı 5-270 amu ve gözlenebilme sınırı ng/L düzeyindedir. İhtiyaç duyulduğunda gaz moleküllerinin bulunmasından kaynaklanan isobarik girişimlerden kaçınmak için dinamik tepkime hücresi kullanılabilir.
Örnek Özellikleri
Örneklerle ilgili detaylı bilgi verilmelidir; örneğin, matriks kompozisyonu, beklenen derişimler, izin verilen sınırlar. Eğer örnek çözeltiye alınmışsa, örnekle beraber bir kör çözeltide getirilmelidir.
Cihaz: Perkin Elmer DRC II model ICP-MS,
Endüktif eşleşmiş plazma-kütle spektrometrisi, örneklerin yüksek sıcaklıktaki bir plazmaya, genellikle argon, gönderilerek moleküler bağların kırıldığı ve atomların iyonlaştırıldığı bir analitik tekniktir. İyonlar örnekleme ve ikinci aşama süzme (skimmer) konileri arayüzeyinden geçerek vakuma alınır ve burada birleştirilmiş mercek sistemi iyonları quadrupol kütle spektrometresine odaklar. Burada iyonlar kütlelerine ayrılıp taramalı elektron çoğaltıcısı ile analizlenir. Örnek, genel olarak bir solüsyon halinde ve sisleştirici aracılığıyla cihaza gönderilir. ICP-MS çok hızlı bir şekilde farklı kütleleri ölçebildiği için, çoklu element ölçüm cihazı olarak düşünülebilir. Diğer bir alternatif örnekleme tekniği ise, lazer aşındırma (laser ablation) tekniğidir. Bu teknik kullanılarak katı örneklerin direkt analizi yapılabilir. Birçok katı örnek, çözme yoluyla veya LA-ICP-MS kullanılarak ölçülebilir. LA-ICP-MS kullanımının en önemli avantajı yarı-nicel analiz olup bilinmeyen örneklerin kompozisyonu hakkında fikir vermesidir.
Teknik Özellikler
ICP-MS sistemi, atomik iyonlar oluşturan bir Ar plazma ve analiz için bir quadrupole kütle spektrometresinden oluşmuştur. Kütle aralığı 5-270 amu ve gözlenebilme sınırı ng/L düzeyindedir. İhtiyaç duyulduğunda gaz moleküllerinin bulunmasından kaynaklanan isobarik girişimlerden kaçınmak için dinamik tepkime hücresi kullanılabilir.
Örnek Özellikleri
Örneklerle ilgili detaylı bilgi verilmelidir; örneğin, matriks kompozisyonu, beklenen derişimler, izin verilen sınırlar. Eğer örnek çözeltiye alınmışsa, örnekle beraber bir kör çözeltide getirilmelidir.