Skip to main content
ODTÜ
English
Merkezi Laboratuvar
  • Ana Sayfa
  • Başvuru
  • Hakkımızda
    • Genel Bilgiler
    • Tarihçe
    • Misyon ve Vizyon
    • Kalite Sistemi
    • Kalite Politikamız
    • Faaliyet Raporu
  • Laboratuvarlar
    • ARGE Eğitim ve Ölçme Merkezi
    • Moleküler Biyoloji ve Biyoteknoloji AR-GE Merkezi
    • Cihaz Listesi
  • Akredite Ölçümler
  • Çalışanlarımız
  • İletişim
    • Yönetim
    • Laboratuvarlar
    • Numune Kabul Birimi
    • Ulaşım
    • Müşteri Memnuniyeti Anketi
  • Giriş

Yarıstatik C-V Metre

Share
Tweet
Dinle
  • English
  • Türkçe

Kuvazistatik C-V metre, metal-yalıtkan-yarıiletken devre elamanlarının (MIS) kuvazistatik sığasını uygulanan gerilimin fonksiyonu olarak (C-V) ölçümünü gerçekleştirir. Ölçüm esnasında yük-gerilim (Q-V) tekniğini kullanır.

Cihaz: Keithley 595

Bu cihazın akım-gerilim (I-V) ölçümleri yapma yeteneği de vardır.

Teknik Özellikler

  • Sığa ölçüm aralığı (10fF-20nF) ve akım aralığı (1fA - 20µA)
  • ±20V voltaj kaynağı ( 0.01 V tolerans).

Uygulamaları :

Kuvazistatik C-V ölçümleri MIS devre elamanlarının karekterizasyonunda kullanılır. Yüksek frekans C-V ölçümleri ile birleştirildiğinde, MIS diyotlarda ara yüzey tuzak durumlarının tespit edilmesini sağlar.

ARGE Eğitim ve Ölçme Merkezi

Elektrik, Manyetik ve Optik Özellikler Ölçüm Laboratuvarı (EMOL)

Atomik Kuvvet Mikroskobu
Dijital Multimetreler
Elektrik ve Manyetik Özellikler Ölçüm Sistemi
Empedans Analiz Cihazı
Nanovolt, Micro-Ohm Metre
Osiloskop
Refraktometre
Renk Spektrofotometresi
Yarıiletken Karakterizasyon Cihazı
Yarıstatik C-V Metre


Laboratuvarlar

ARGE Eğitim ve Ölçme Merkezi

Elektrik, Manyetik ve Optik Özellikler Ölçüm Laboratuvarı (EMOL)

Atomik Kuvvet Mikroskobu
Dijital Multimetreler
Elektrik ve Manyetik Özellikler Ölçüm Sistemi
Empedans Analiz Cihazı
Nanovolt, Micro-Ohm Metre
Osiloskop
Refraktometre
Renk Spektrofotometresi
Yarıiletken Karakterizasyon Cihazı
Yarıstatik C-V Metre


Laboratuvarlar

Share
Tweet
  • English
  • Türkçe
Dinle

Kuvazistatik C-V metre, metal-yalıtkan-yarıiletken devre elamanlarının (MIS) kuvazistatik sığasını uygulanan gerilimin fonksiyonu olarak (C-V) ölçümünü gerçekleştirir. Ölçüm esnasında yük-gerilim (Q-V) tekniğini kullanır.

Cihaz: Keithley 595

Bu cihazın akım-gerilim (I-V) ölçümleri yapma yeteneği de vardır.

Teknik Özellikler

  • Sığa ölçüm aralığı (10fF-20nF) ve akım aralığı (1fA - 20µA)
  • ±20V voltaj kaynağı ( 0.01 V tolerans).

Uygulamaları :

Kuvazistatik C-V ölçümleri MIS devre elamanlarının karekterizasyonunda kullanılır. Yüksek frekans C-V ölçümleri ile birleştirildiğinde, MIS diyotlarda ara yüzey tuzak durumlarının tespit edilmesini sağlar.

Merkezi Laboratuvar ARGE Eğitim Ölçme Merkezi Üniversiteler Mahallesi, Dumlupınar Bulvarı No:1, 06800 Çankaya/Ankara © ORTA DOĞU TEKNİK ÜNİVERSİTESİ ANKARA KAMPUSU