XPS  :  X-Ray fotoelektron Spektroskopisi  veya Kimyasal analiz için elektron spektroskopisi (ESCA) katı materyallerin yüzeyleri hakkında kimyasal bilgi elde etmek için kullanılan gelişmiş bir yüzey analiz tekniğidir. Metod, katı örnekleri uyaran bir x-ışın demeti kullanarak fotoelektronların saçılmasını sağlar.

İkincil iyon kütle spectroskopisi (SIMS), numuneleri birkaç keV enerjili odaklanmış birincil iyon ışını ile püskürtülüp, numunelerin yüzeyinden yayılan ikincil iyonları analiz ederek katı yüzeyler hakkında elementel ve moleküler bilgi elde edinilmesini sağlayan çok hassas yüzey analitik tekniğidir. Yüzeyden yayılan ikincil iyonlar uçuş zamanlı kütle spektrometresiyle analiz edilir.  

Aşağıda tanımlanan değişik analiz tipleri uygulanabilir.

Atom kütleleri günlük hayatta kullanılan hiçbir tartım cihazıyla ölçülemeyecek kadar küçüktür. Bu nedenle atom kütlelerinden söz edilirken gram yerine bir standarda göre bağıl kütleleri kullanılır. Bu standard, atomik kütle birimi (akb, Da) olarak adlandırılır ve karbon-12 atomunun kütlesinin 12 de 1’i ile temsil edilir.

X-Işını Kırınım yöntemi (XRD), her bir kristalin fazın kendine özgü atomik dizilimlerine bağlı olarak, X-ışınlarını karakteristik bir düzen içerisinde kırması esasına dayanır. Her bir kristalin faz için bu kırınım profilleri bir nevi parmak izi gibi o kristali tanımlar. X-Işını Kırınım analiz metodu, analiz sırasında numuneyi tahrip etmez ve çok az miktardaki numunelerin dahi analizlerinin yapılmasını sağlar.

Geçirimli Elektron Mikroskobi:

Lantan hekzaborür (LaB₆) elektron tabancalı, 20-120 kV aralığında hızlandırıcı voltaj altında çalışan FEI marka Tecnai G² Spirit Biotwin model Yüksek Kontrastlı Geçirimli Elektron Mikroskobu (CTEM), özellikle biyolojik ve polimerik malzemelerin yüksek kontrastlı görüntüleme ile incelenmeleri amacıyla Merkezi Laboratuvarda hizmet vermektedir. Cihaz özel lens konfigürasyonu sayesinde düşük kontrast veren numunelerden maksimum kontrast elde etmek için dizayn edilmiştir.

TEM incelemeleri sadece katı olan  (metal, seramik, polimer gibi) ve 3 mm çapında, yaklaşık 100μm kalınlığından numunelerin aşağıda verilen gereç ve yöntemler kullanılarak elektron geçirgenliğine inceltilmesi sonucu elde edilen örnekler üzerinde yapılabilir.

Hacimli katı numuneler: Bu tarzdaki numunelerin hazırlanabilmesi için yaklaşık 100 µm kalınlığında ve en az 4-5 mm genişliğinde ince şeritlerden 3 mm çapında diskler elde etmek için kullanılacak araçlar;