Cihaz: Instron, Dynatup 9250 HV

Darbe Test Cihazı ile yüksek hızlarda deney parçasının kırılmasında soğurulan enerji miktarı ölçülür. Darbe deneyi süresince soğurulan enerji, malzemenin mukavemetinin ve tokluğunun bir ölçüsü olarak kullanılabilir. Malzemenin darbeye dayanıklılığı, parça tasarımcıları için en önemli özelliklerden biri olarak göz önünde bulundurulmalıdır.

Cihaz: Shimadzu IRTracer^TM-100 Fourier Transform KızılÖtesi Spektrometresi

Aksesuarlar ve Çalışma Aralığı:

• GladiATR 10 (Mid-IR (400-4000cm^-1))

• AIMsight Infrared Mikroskop (Mid-IR (650-4000 cm^-1))

  • ATR Objektifi (Ge)

  • Sıyırma Açısı Objektifi (Grazing Angle Objective)

  • Elmas Hücre CII

Cihaz: Renishaw inVIA Dispersive Raman Spektrometresi

Lazerler:

• 532 nm 100 mW-Nd.YAG Lazer

• 633 nm 17 mW-He-Ne Lazer

• 785 nm 300 mW-Variable Diode Lazer

Katı örnekler eğer gerekiyorsa etüvde kurutulur, tar!lır ve nitrik asit, hidroklorik asit ve hidrojen peroksit kullanılarak mikrodalga çözme sistemi ile çözeltiye alınır.

Cihaz: Rigaku ZSX Primus II

ODTÜ Merkez Laboratuvarı bünyesinde bulunan  X-Işını Floresans (XRF) spektrometresi elemental ve kimyasal kompozisyonu belirlemede kullanılan önemli cihazlardan biridir. Hızlı ve duyarlı olması, kullanım kolaylığı ve malzemeye zarar vermeme özellikleri göz önüne alındığında teknolojik ve bilimsel araştırmalardaki önemi daha da artmaktadır.

Ultraviyole ve görünür ışık (UV-Vis) absorpsiyon spektroskopi bir ışın demetinin bir örnekten geçtikten veya bir örnek yüzeyinden yansıtıldıktan sonraki azalmasının ölçülmesidir. Işığın şiddetinin azalması absorplamanın arttığını gösterir. Örneğin derişimi belirli bir dalgaboyundaki absorpsiyonunu ölçerek bulunur. UV-Vis spektroskopi genellikle çözeltideki moleküller veya inorganik iyon ve komplekslerin ölçümünde kullanılır.

Cihaz: Perkin Elmer Optima 4300DV

Cihaz: Perkin Elmer DRC II model ICP-MS,