X-Işını Floresans Spektometresi
Cihaz: Rigaku ZSX Primus II
ODTÜ Merkez Laboratuvarı bünyesinde bulunan X-Işını Floresans (XRF) spektrometresi elemental ve kimyasal kompozisyonu belirlemede kullanılan önemli cihazlardan biridir. Hızlı ve duyarlı olması, kullanım kolaylığı ve malzemeye zarar vermeme özellikleri göz önüne alındığında teknolojik ve bilimsel araştırmalardaki önemi daha da artmaktadır.
XRF cihazının çalışma prensibi özet olarak şu şekildedir:
Atom X ışınları gibi yüksek enerjili bir radyasyonla uyarılırsa, bu yüksek enerji girişi yakın yörüngelerdeki elektronları daha yüksek enerji düzeyine çıkarır. Uyarılan elektronlar ilk enerji düzeylerine döndüklerinde kazanmış oldukları fazla enerjiyi dalga boyu 0,1-50 Å olan X ışınları şeklinde geri verirler. Bu ikincil X ışınları yayımına floresans ışıma adı verilir. Elementlerin verdiği bu ışımaların dalga boyu her element için farklı ve ayırtmandır. Diğer bir ifadeyle bu ışımalar o elementin parmak izi gibidir. Işımanın dalga boyunun saptanmasıyla elementin cinsi (nitel), saptanan bu ışının yoğunluğunun ölçülmesiyle element konsantrasyonu (nicel) belirlenmektedir.
Dalgaboyu dağılımlı XRF cihazı ile yarı niceliksel olarak Bor’dan Uranyum’a kadar element taraması yapmak mümkündür. Bu yöntem kesin niceliksel sonuç vermemekle birlikte örneğin yapısını anlamak ve ileri aşama analizler için yol göstericiliği açısından çok faydalıdır. Örnek çeşitliliği sayesinde XRF’in uygulama alanları da çok geniş bir yelpazeye yayılmıştır.
Cihaz: Rigaku ZSX Primus II
ODTÜ Merkez Laboratuvarı bünyesinde bulunan X-Işını Floresans (XRF) spektrometresi elemental ve kimyasal kompozisyonu belirlemede kullanılan önemli cihazlardan biridir. Hızlı ve duyarlı olması, kullanım kolaylığı ve malzemeye zarar vermeme özellikleri göz önüne alındığında teknolojik ve bilimsel araştırmalardaki önemi daha da artmaktadır.
XRF cihazının çalışma prensibi özet olarak şu şekildedir:
Atom X ışınları gibi yüksek enerjili bir radyasyonla uyarılırsa, bu yüksek enerji girişi yakın yörüngelerdeki elektronları daha yüksek enerji düzeyine çıkarır. Uyarılan elektronlar ilk enerji düzeylerine döndüklerinde kazanmış oldukları fazla enerjiyi dalga boyu 0,1-50 Å olan X ışınları şeklinde geri verirler. Bu ikincil X ışınları yayımına floresans ışıma adı verilir. Elementlerin verdiği bu ışımaların dalga boyu her element için farklı ve ayırtmandır. Diğer bir ifadeyle bu ışımalar o elementin parmak izi gibidir. Işımanın dalga boyunun saptanmasıyla elementin cinsi (nitel), saptanan bu ışının yoğunluğunun ölçülmesiyle element konsantrasyonu (nicel) belirlenmektedir.
Dalgaboyu dağılımlı XRF cihazı ile yarı niceliksel olarak Bor’dan Uranyum’a kadar element taraması yapmak mümkündür. Bu yöntem kesin niceliksel sonuç vermemekle birlikte örneğin yapısını anlamak ve ileri aşama analizler için yol göstericiliği açısından çok faydalıdır. Örnek çeşitliliği sayesinde XRF’in uygulama alanları da çok geniş bir yelpazeye yayılmıştır.