ODTÜ
English
Merkezi Laboratuvar

Elektron Spin Rezonans Spektroskopi Laboratuvarı (ESRL)

Submitted by oerisen on 22 September 2017 - 11:53am
Çiftlenmemiş elektronların spinlerini ölçerek malzemelerde eser miktarlarda bulunan numuneler tespit edilebilmektedir. Ayrıca bu yöntem ile kristaller içindeki bozukluklar tespit edilebilir.
Tanıtım Broşürü  

mlabesrlatmetu [dot] edu [dot] tr

6475
Turkish

Bu Laboratuvardaki Cihazlar

Elektron Spin Rezonans Spektrometresi

İletişim için laboratuvar epostasını kullanınız. Analiz esnasında gelen telefon aramaları çeşitli duraksamalara ve sorunlara yol açmaktadır. Lütfen sorularınızı eposta ile sorunuz.


Çalışanlarımız

Uzman e-posta
Öğr. Gör. Sedat Canlı
Laboratuvar Sorumlusu

mlabesrlatmetu [dot] edu [dot] tr

Taramalı Elektron Mikroskobu

Submitted by oerisen on 22 September 2017 - 11:51am


Cihaz: QUANTA 400F Field Emission SEM

Yüksek çözünürlüklü taramalı elektron mikroskobu, 1.2 nm çözünürlüktedir.

Başvuru Koşulları

Turkish


Laboratuvarlar

İletişim

merlabatmetu [dot] edu [dot] tr

merlabatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabsplatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabmklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkslatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkflatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabgenatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabgklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabeslatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabdklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabyglatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabyalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabyklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabxrdlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabtemlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabtalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabrklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabrilatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabpalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabpzlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabnmrlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabnmtlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabmtlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkorlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabesrlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabemlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabemolatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabdilatmetu [dot] edu [dot] tr

Elektron Prob Mikroanaliz Cihazı
SEM Örnek Hazırlama Üniteleri
Taramalı Elektron Mikroskobu

SEM Örnek Hazırlama Üniteleri

Submitted by oerisen on 22 September 2017 - 11:49am
Turkish


Laboratuvarlar

İletişim

merlabatmetu [dot] edu [dot] tr

merlabatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabsplatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabmklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkslatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkflatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabgenatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabgklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabeslatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabdklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabyglatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabyalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabyklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabxrdlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabtemlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabtalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabrklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabrilatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabpalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabpzlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabnmrlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabnmtlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabmtlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkorlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabesrlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabemlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabemolatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabdilatmetu [dot] edu [dot] tr

Elektron Prob Mikroanaliz Cihazı
SEM Örnek Hazırlama Üniteleri
Taramalı Elektron Mikroskobu

Elektron Prob Mikroanaliz Cihazı

Submitted by oerisen on 22 September 2017 - 11:49am

CİHAZ: JXA - 8230

The JXA-8230 Elektron Prob Mikroanaliz cihazı elektron demetini numuneye göndererek karakteristik x-ışınlarının enerji ve dalga boylarını ölçer. Ayrıca kalitatif ve tam kantitatif analiz yapabilme yeteneği mevcuttur.

TEKNİK ÖZELLİKLER

Element Ölçüm Aralığı : B(5) to U(92)

Çözünürlük (SEI) : 6nm

Büyütme : 40x to 300.000x

Hızlandırma Voltajı : 0,2 to 30 kV

Turkish


Laboratuvarlar

İletişim

merlabatmetu [dot] edu [dot] tr

merlabatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabsplatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabmklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkslatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkflatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabgenatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabgklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabeslatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabdklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabyglatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabyalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabyklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabxrdlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabtemlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabtalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabrklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabrilatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabpalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabpzlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabnmrlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabnmtlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabmtlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkorlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabesrlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabemlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabemolatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabdilatmetu [dot] edu [dot] tr

Elektron Mikroskopi Laboratuvarı (EML)

Elektron Prob Mikroanaliz Cihazı
SEM Örnek Hazırlama Üniteleri
Taramalı Elektron Mikroskobu

Elektron Mikroskopi Laboratuvarı (EML)

Submitted by oerisen on 22 September 2017 - 11:47am
Ölçüm kabiliyetleri: Malzemelerin mikro ve nano boyutta görüntülenmesi, küçük alanlardan malzemelerin elementel kompozisyonlarının belirlenmesi ve malzemelerinin kristal bilgilerinin analizi çalışmaları yapılmaktadır.

mlabemlatmetu [dot] edu [dot] tr

7422
Turkish

Bu Laboratuvardaki Cihazlar

Elektron Prob Mikroanaliz Cihazı
SEM Örnek Hazırlama Üniteleri
Taramalı Elektron Mikroskobu

İletişim için laboratuvar epostasını kullanınız. Analiz esnasında gelen telefon aramaları çeşitli duraksamalara ve sorunlara yol açmaktadır. Lütfen sorularınızı eposta ile sorunuz.


Çalışanlarımız

Uzman e-posta
Öğr. Gör. Sedat Canlı
(SEM)

mlabemlatmetu [dot] edu [dot] tr
Öğr. Gör. Elif Kanbertay Canlı
(SEM)

mlabemlatmetu [dot] edu [dot] tr
Öğ. Gör. Dr. İbrahim Çam
(SEM)

mlabemlatmetu [dot] edu [dot] tr
Araş. Gör. Dr. Seçkin Öztürk
(SEM)

mlabemlatmetu [dot] edu [dot] tr
Öğ. Gör. Dr. Tuğba Endoğan Tanır
(SEM)

mlabemlatmetu [dot] edu [dot] tr
Öğ. Gör. Dr. Zafer Artvin
(SEM,EPMA)

mlabemlatmetu [dot] edu [dot] tr
Öğr. Gör. Aynur Küçük
(EPMA)

mlabemlatmetu [dot] edu [dot] tr

Yarıiletken Karakterizasyon Cihazı

Submitted by oerisen on 22 September 2017 - 11:46am


Cihaz: Keithley 4200-SCS

Yarı iletken malzeme ve bu malzemelerden yapılan diyot, transistor gibi elektronik aygıtların akım-gerilim (I-V) özelliklerinin belirlenmesinde kullanılan cihaz, windows işletim sistemi altında çalışan ara yüzey birimi ile gerçek zamanlı grafik sunumuna sahiptir.

Uygulamalar :

  • Yarı iletken devre elemanları

  • Direnç veya kapasitif MEMS aygıtları

Turkish


Laboratuvarlar

İletişim

merlabatmetu [dot] edu [dot] tr

merlabatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabsplatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabmklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkslatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkflatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabgenatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabgklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabeslatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabdklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabyglatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabyalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabyklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabxrdlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabtemlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabtalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabrklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabrilatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabpalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabpzlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabnmrlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabnmtlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabmtlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkorlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabesrlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabemlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabemolatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabdilatmetu [dot] edu [dot] tr

ARGE Eğitim ve Ölçme Merkezi

Elektrik, Manyetik ve Optik Özellikler Ölçüm Laboratuvarı (EMOL)

Atomik Kuvvet Mikroskobu
Barkhausen-Gürültü Analiz Sistemi
Dijital Multimetreler
Elektrik ve Manyetik Özellikler Ölçüm Sistemi
Empedans Analiz Cihazı
Nanovolt, Micro-Ohm Metre
Osiloskop
Refraktometre
Renk Spektrofotometresi
Yarıiletken Karakterizasyon Cihazı
Yarıstatik C-V Metre

Renk Spektrofotometresi

Submitted by oerisen on 22 September 2017 - 11:45am

Cihaz: Datacolor Mercury 2000

Elde kullanılabilen spektrofotometre hızlı ve kesin yansıma ölçümleri yapabilmektedir.

Teknik Özellikleri

  • Işık kaynağı: Darbeli Xenon
  • Spektral aralık: 400-700nm
  • Etkili bant genişliği/çözünürlük: 10nm/2nm
  • Ölçme aralığı: 0 ile 200% yansıma

Gerekli Örnek Özellikleri

Turkish


Laboratuvarlar

İletişim

merlabatmetu [dot] edu [dot] tr

merlabatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabsplatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabmklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkslatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkflatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabgenatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabgklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabeslatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabdklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabyglatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabyalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabyklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabxrdlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabtemlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabtalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabrklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabrilatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabpalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabpzlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabnmrlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabnmtlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabmtlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkorlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabesrlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabemlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabemolatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabdilatmetu [dot] edu [dot] tr

ARGE Eğitim ve Ölçme Merkezi

Elektrik, Manyetik ve Optik Özellikler Ölçüm Laboratuvarı (EMOL)

Atomik Kuvvet Mikroskobu
Barkhausen-Gürültü Analiz Sistemi
Dijital Multimetreler
Elektrik ve Manyetik Özellikler Ölçüm Sistemi
Empedans Analiz Cihazı
Nanovolt, Micro-Ohm Metre
Osiloskop
Refraktometre
Renk Spektrofotometresi
Yarıiletken Karakterizasyon Cihazı
Yarıstatik C-V Metre

Refraktometre

Submitted by oerisen on 22 September 2017 - 11:44am

Cihaz: Schimidt+Haensch ATR W2

Otomatik mikroişlemci kontrollü kritik açı refraktometresi opaklık, viskozite ve renkten bağımsız olarak sıvıların refraktif endeksini ölçmek için tasarlanmıştır.

Teknik Özellikler

Turkish


Laboratuvarlar

İletişim

merlabatmetu [dot] edu [dot] tr

merlabatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabsplatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabmklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkslatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkflatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabgenatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabgklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabeslatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabdklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabyglatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabyalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabyklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabxrdlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabtemlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabtalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabrklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabrilatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabpalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabpzlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabnmrlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabnmtlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabmtlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkorlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabesrlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabemlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabemolatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabdilatmetu [dot] edu [dot] tr

ARGE Eğitim ve Ölçme Merkezi

Elektrik, Manyetik ve Optik Özellikler Ölçüm Laboratuvarı (EMOL)

Atomik Kuvvet Mikroskobu
Barkhausen-Gürültü Analiz Sistemi
Dijital Multimetreler
Elektrik ve Manyetik Özellikler Ölçüm Sistemi
Empedans Analiz Cihazı
Nanovolt, Micro-Ohm Metre
Osiloskop
Refraktometre
Renk Spektrofotometresi
Yarıiletken Karakterizasyon Cihazı
Yarıstatik C-V Metre

Osiloskop

Submitted by oerisen on 22 September 2017 - 11:43am

Cihaz: AGILENT 54642A

500 MHz, 2 kanllı osiloskop.

Teknik Özellikler

  • 500MHz, 2GSa/s
  • Yüksek çözünürlükte ekran
  • 8MB sinyal depolama hafızası
  • Standart Tümleşik disket sürücü, RS-232 ve paralel bağlantı
Turkish


Laboratuvarlar

İletişim

merlabatmetu [dot] edu [dot] tr

merlabatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabsplatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabmklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkslatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkflatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabgenatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabgklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabeslatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabdklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabyglatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabyalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabyklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabxrdlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabtemlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabtalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabrklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabrilatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabpalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabpzlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabnmrlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabnmtlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabmtlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkorlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabesrlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabemlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabemolatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabdilatmetu [dot] edu [dot] tr

ARGE Eğitim ve Ölçme Merkezi

Elektrik, Manyetik ve Optik Özellikler Ölçüm Laboratuvarı (EMOL)

Atomik Kuvvet Mikroskobu
Barkhausen-Gürültü Analiz Sistemi
Dijital Multimetreler
Elektrik ve Manyetik Özellikler Ölçüm Sistemi
Empedans Analiz Cihazı
Nanovolt, Micro-Ohm Metre
Osiloskop
Refraktometre
Renk Spektrofotometresi
Yarıiletken Karakterizasyon Cihazı
Yarıstatik C-V Metre

Nanovolt, Micro-Ohm Metre

Submitted by oerisen on 22 September 2017 - 11:41am

Cihaz: AGILENT 34420A

Düşük gürültülü voltaj, direnç ve sıcaklık ölçüm fonksiyonları olan, yüksek hassasiyette, düşük seviyeli ölçümler için multimetredir.

Teknik Özellikler

Turkish


Laboratuvarlar

İletişim

merlabatmetu [dot] edu [dot] tr

merlabatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabsplatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabmklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkslatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkflatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabgenatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabgklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabeslatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabdklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabyglatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabyalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabyklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabxrdlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabtemlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabtalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabrklatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabrilatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabpalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabpzlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabnmrlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabnmtlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabmtlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkorlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabkalatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabesrlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabemlatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabemolatmetu [dot] edu [dot] tr

mlabdilatmetu [dot] edu [dot] tr

ARGE Eğitim ve Ölçme Merkezi

Elektrik, Manyetik ve Optik Özellikler Ölçüm Laboratuvarı (EMOL)

Atomik Kuvvet Mikroskobu
Barkhausen-Gürültü Analiz Sistemi
Dijital Multimetreler
Elektrik ve Manyetik Özellikler Ölçüm Sistemi
Empedans Analiz Cihazı
Nanovolt, Micro-Ohm Metre
Osiloskop
Refraktometre
Renk Spektrofotometresi
Yarıiletken Karakterizasyon Cihazı
Yarıstatik C-V Metre

Merkezi Laboratuvar ARGE Eğitim Ölçme Merkezi Üniversiteler Mahallesi, Dumlupınar Bulvarı No:1, 06800 Çankaya/Ankara © ORTA DOĞU TEKNİK ÜNİVERSİTESİ ANKARA KAMPUSU