MERKEZ LABORATUVARI


Atomik Kuvvet Mikroskobu

afmAtomik boyutlara kadar sivriltilmiş bir iğne ucu yardımıyla, yüzeyin yüksek çözünürlükte, üç boyutlu görüntülenmesini sağlar. Görüntüleme, iğne ucunun yüzey ile etkileşiminin incelenmesi sonucunda gerçekleştirilir. Değişik amaçlar için farklı iğne uçları kullanılır. Atomik kuvvet mikroskopu üç farklı teknik ile kullanabilmektedir. Bunlar; iğnenin yüzeye temas ettirilerek uygulandığı temas yöntemi, iğnenin yüzeye temas etmediği temassız yöntem ve iğnenin yüzeye vurularak uygulandığı vurma yöntemidir. Örnek yüzeylerinin görüntülenmesi yanı sıra faz, elektrik iletkenlik ve manyetik farklılıklar da saptanabilmektedir

Cihaz: Veeco MultiMode V

Teknik Özellikler

Model Tarama Alanı Dikey İnceleme Alanı
AS-12 ("E") 10µm x 10µm 2,5µm
AS-130 ("J") 125µm x 125µm 5,0µm

Gerekli Örnek Özellikleri

Örnekler maksimum 15 milimetrelik bir çap içerisine yerleştirilebilmelidir. İncelenecek yüzey yerleştirme yüzeyine paralel ve 8 milimetreden küçük olmalıdır.

Uygulamalar

İnce film kaplamaların yüzey incelemeleri.

Organik ve inorganik malzemelerin yüzey incelemeleri.

Yüzey incelemeleri yüzey düzgünlüğü, faz farklılıkları, elektrik iletkenlik farklılıkları ve manyetik alan yönü farklılıkları konularında yapılabilmektedir.